3.2、串聯(lián)電阻值參數(shù)的優(yōu)化調(diào)整方法
在PVsyst軟件中未提到串聯(lián)電阻值Rs和輻照度的變化關系,相關文獻中[3][4]給出了晶硅電池串聯(lián)電阻值隨著輻照變化的趨勢,從圖10可知當輻照降低時,電池的串聯(lián)電阻也有微小的變化,同時和Rsh的對比可知,Rs降低幅度比Rsh要小很多。
圖10 電池并聯(lián)電阻值和串聯(lián)電阻值隨輻照變化關系[3] (單位:1 suns代表200mW/m2)
Rs(module)的調(diào)整參考圖11定義窗口,默認提供了兩種輸入模式,第一種只需要輸入組件在不同光強和溫度下的相對STC條件轉(zhuǎn)換效率(可選 800, 600, 400 and 200 W/m²和 25°條件),第二種模式是輸入具體的光強、溫度、Isc、Voc、Impp和Vmpp值,參考圖12。
圖11 Rs(module)弱光參數(shù)定義窗口
圖12 Rs(module)弱光參數(shù)定義輸入窗口
以XXX240-60P多晶組件為例,參考第三方權(quán)威測試機構(gòu)提供的低輻照測試結(jié)果(測試條件:200W/m2,25℃,AM1.5),在200W/m2下的電性能參數(shù)如表7所示,將Vm、Im、Isc和Voc輸入到PVsyst軟件,同時軟件自動計算在200W/m2時的轉(zhuǎn)換效率和其相對于STC下的轉(zhuǎn)換效率,其衰減比例為2.76%,完成后如圖13所示,點擊“OPtimizeRs”可獲得Rs(module)值,軟件自動進行擬合得到Rs值為0.345Ω,同時600-800W/m2輻照區(qū)間的弱光損失結(jié)果顯示0.5%以內(nèi)。
表7第三方測試機構(gòu)提供的低輻照測試結(jié)果
圖13 Rs(module)優(yōu)化結(jié)果