對電池片進(jìn)行電致發(fā)光EL測試,如下圖3和4所示。其黑心和黑斑現(xiàn)象如組件EL測試所見。
圖3 樣片1EL 測試 圖4 樣片2EL 測試
光照條件電池電性能測試如表1 所示。
表1 光照條件電池電性能測試
兩片電池效率分別為11.06%和13.99%,Isc 分別為4.73A 和4.62A,均明顯偏低;而此類正常電池片效率一般為17.5%左右,Isc 為5.3A 左右。
電池光誘導(dǎo)電流密度(LBIC Current)測試如圖5 和6 所示。
圖5 樣片1 LBIC Current 測試 圖6 樣片2 LBIC Current 測試
圖7 樣片1 少子壽命測試 圖8 樣片2 少子壽命測試
硅片少子壽命測試與電池光誘導(dǎo)電流密度(LBIC Current)測試和電池EL 測試具有很好的對應(yīng)關(guān)系,說明造成電池效率低的原因?yàn)楣杵旧韮?nèi)部缺陷所致,與電池工藝沒有直接關(guān)系。
對硅片進(jìn)行化學(xué)拋光和Wright 液腐蝕,樣片2 呈現(xiàn)出明顯的與EL 測試、電流密度(LBIC Current)測試和少子壽命測試相對應(yīng)的圖案形貌,如圖9 所示。
圖9 樣片2 經(jīng)化學(xué)腐蝕后圖案形貌
樣片1 的光學(xué)顯微觀察如圖10 和11 所示,局部區(qū)域具有很高的位錯(cuò)密度達(dá)10E5~10E6 左右。樣片2 的光學(xué)顯微觀察如圖12 和13 所示,在如圖9 所示的中心圓形圖案形貌內(nèi),其位錯(cuò)密度均高達(dá)10E6~10E7 左右。黑斑邊緣區(qū)域位錯(cuò)密度>106 個(gè)/cm2 均為無位錯(cuò)單晶要求1000~10000 倍,這是相當(dāng)大的位錯(cuò)密度。