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毫無疑問，光伏組件是光伏電站最重要的設(shè)備之一，今天來說說常用的多晶硅光伏組件，包含：光伏組件的關(guān)鍵參數(shù)、熱斑效應(yīng)和PID效應(yīng)、運(yùn)營后檢測。

一、光伏組件技術(shù)規(guī)格書中的關(guān)鍵參數(shù)

1、功率

我們常說，采用255Wp光伏組件。下表的“p”為peak的縮寫，代表其峰值功率為255W。所有的技術(shù)規(guī)格書中都會(huì)標(biāo)注“標(biāo)準(zhǔn)測試條件”的。下圖為常州天合的光伏組件技術(shù)規(guī)格書一部分（250W，下同）。
只有在標(biāo)準(zhǔn)測試條件（輻照度為1000W/m2，電池溫度25℃）時(shí)，光伏組件的輸出功率才是“標(biāo)稱功率”（250W），輻照度和溫度變化時(shí)，功率肯定會(huì)變化。另外，功率誤差為正負(fù)3%，說明組件的實(shí)際功率是242.5~257.5W都是增長的。不過，這個(gè)組件的功率偏差為正偏差3%。

在非標(biāo)準(zhǔn)條件下，光伏組件的輸出功率一般不是標(biāo)稱功率，如下圖。


輻照度為800W/m2，電池溫度20℃時(shí)，250W的組件輸出功率只有183W，為標(biāo)況下的73.2%。

2、效率

理論上，尺寸、標(biāo)稱功率相同的組件，效率肯定是相同的。光伏組件是由電池片組成，一塊光伏組件通常由60片（6×10）或72片（6×10）電池片組成，面積分別為1.638 m2（0.992m×1.652m）和3.895 m2（0.992m×1.956m）。


輻照度為1000W/m2時(shí)，1.638 m2組件上接收的功率為1638W，當(dāng)輸出為250W時(shí)，效率為15.3%，255W時(shí)為15.6%。

3、電壓與溫度系數(shù)

電壓分開路電壓和MPPT電壓，溫度系數(shù)分電壓溫度系數(shù)和功率溫度系數(shù)。在進(jìn)行串并聯(lián)方案設(shè)計(jì)時(shí)，要用開路電壓、工作電壓、溫度系數(shù)、當(dāng)?shù)貥O端溫度（最好是晝間）進(jìn)行最大開路電壓和MPPT電壓范圍的計(jì)算，與逆變器進(jìn)行匹配。

二、影響光伏組件的兩個(gè)效應(yīng)

1、熱斑效應(yīng)

一串聯(lián)支路中被遮蔽的太陽電池組件，將被當(dāng)作負(fù)載消耗其他有光照的太陽電池組件所產(chǎn)生的能量，被遮蔽的太陽電池組件此時(shí)會(huì)發(fā)熱，這就是熱斑效應(yīng)。

這種效應(yīng)能嚴(yán)重的破壞太陽電池。有光照的太陽電池所產(chǎn)生的部分能量，都可能被遮蔽的電池所消耗。而造成熱斑效應(yīng)的，可能僅僅是一塊鳥糞。

為了防止太陽電池由于熱斑效應(yīng)而遭受破壞，最好在太陽電池組件的正負(fù)極間并聯(lián)一個(gè)旁路二極管，以避免光照組件所產(chǎn)生的能量被受遮蔽的組件所消耗。當(dāng)熱斑效應(yīng)嚴(yán)重時(shí)，旁路二極管可能會(huì)被擊穿，令組件燒毀，如下圖（圖片來自于TUV-Rheinland）。

2、PID效應(yīng)

（參考何寶華等《晶體硅光伏組件抗PID技術(shù)研究》中內(nèi)容）

電位誘發(fā)衰減效應(yīng)（PID，PotentialInduced Degradation）是電池組件長期在高電壓作用下，使玻璃、封裝材料之間存在漏電流，大量電荷狙擊在電池片表面，使得電池表面的鈍化效果惡化，導(dǎo)致組件性能低于設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)。PID現(xiàn)象嚴(yán)重時(shí)，會(huì)引起一塊組件功率衰減50%以上，從而影響整個(gè)組串的功率輸出。高溫、高濕、高鹽堿的沿海地區(qū)最易發(fā)生PID現(xiàn)象。

造成組件PID現(xiàn)象的原因主要有以下三個(gè)方面：

1）系統(tǒng)設(shè)計(jì)原因：光伏電站的防雷接地是通過將方陣邊緣的組件邊框接地實(shí)現(xiàn)的，這就造成在單個(gè)組件和邊框之間形成偏壓，組件所處偏壓越高則發(fā)生PID現(xiàn)象越嚴(yán)重。對(duì)于P型晶硅組件，通過有變壓器的逆變器負(fù)極接地，消除組件邊框相對(duì)于電池片的正向偏壓會(huì)有效的預(yù)防PID現(xiàn)象的發(fā)生，但逆變器負(fù)極接地會(huì)增加相應(yīng)的系統(tǒng)建設(shè)成本；

2）光伏組件原因：高溫、高濕的外界環(huán)境使得電池片和接地邊框之間形成漏電流，封裝材料、背板、玻璃和邊框之間形成了漏電流通道。通過使用改變絕緣膠膜乙烯醋酸乙烯酯（EVA）是實(shí)現(xiàn)組件抗PID的方式之一，在使用不同EVA封裝膠膜條件下，組件的抗PID性能會(huì)存在差異。另外，光伏組件中的玻璃主要為鈣鈉玻璃，玻璃對(duì)光伏組件的PID現(xiàn)象的影響至今尚不明確；

3）電池片原因：電池片方塊電阻的均勻性、減反射層的厚度和折射率等對(duì)PID性能都有著不同的影響。

上述引起PID現(xiàn)象的三方面中，由在光伏系統(tǒng)中的組件邊框與組件內(nèi)部的電勢差而引起的組件PID現(xiàn)象被行業(yè)所公認(rèn)，但在組件和電池片兩個(gè)方面組件產(chǎn)生PID現(xiàn)象的機(jī)理尚不明確，相應(yīng)的進(jìn)一步提升組件的抗PID性能的措施仍不清楚。

三、光伏組件性能的檢測

光伏電站運(yùn)行一段時(shí)間后，需要進(jìn)行檢測，來確定光伏電站的性能。涉及光伏組件的，主要包含以下項(xiàng)目。

1、功率衰減測試

光伏組件運(yùn)行1年和25年后的衰減率到底有多少？25年太久，現(xiàn)在可能還沒有運(yùn)行這么長時(shí)間的電站。按國家標(biāo)準(zhǔn)，晶硅電池2年的衰減率應(yīng)該在3.2%以內(nèi)。但目前這個(gè)數(shù)據(jù)還真的很難說，原因有三：

1）光伏組件出場功率是用實(shí)驗(yàn)室標(biāo)準(zhǔn)光源和測試環(huán)境標(biāo)定的，但似乎國內(nèi)不同廠家的標(biāo)準(zhǔn)光源是存在一定的差異的。那在A廠標(biāo)定的250W的組件，到了B廠，可能就是245W的組件的。

2）現(xiàn)場檢測所用的儀器精確度較差，據(jù)說5%以內(nèi)的誤差都是可以接受的。用誤差5%的儀器，測2%（1年）的衰減，難度有些大，結(jié)果也令人懷疑。

3）現(xiàn)場的測試條件跟實(shí)驗(yàn)室的相差較大，正好在1000W/m2、25℃的時(shí)間太少了！所以，就需要進(jìn)行一個(gè)測試值向標(biāo)準(zhǔn)值的轉(zhuǎn)化，而輸出功率與輻照度僅在一個(gè)很小的區(qū)間內(nèi)正相關(guān)。如圖2所示，即使在800W/m2時(shí)，也不是正相關(guān)的。因此，在轉(zhuǎn)化的時(shí)候，肯定存在誤差。

另外，很多組件出場可能就是-3%的功率偏差，還沒衰減，3%就直接沒了……

2、EL測試

當(dāng)光伏組件出現(xiàn)問題時(shí)，局部電阻升高，該區(qū)域溫度就會(huì)升高。EL測試儀就像我們體檢中的X光機(jī)一樣，可以對(duì)光伏組件進(jìn)行體檢——通過紅外圖像拍攝，根據(jù)溫度不同，圖像呈現(xiàn)不
同的顏色，從而非常容易的發(fā)現(xiàn)光伏組件的很多問題：隱裂、熱斑、PID效應(yīng)等。

光伏組件在運(yùn)輸、搬運(yùn)、安裝等過程中，容易被踩踏、撞擊，導(dǎo)致組件產(chǎn)生不易察覺的隱裂，極大影響組件輸出功率。用EL變可以檢測出來，如下圖。


下圖為熱斑現(xiàn)象的紅外照片（圖片來自于TUV-Rheinland），紅點(diǎn)部分為產(chǎn)生熱斑處。


下圖為PID效應(yīng)的紅外照片， PID效應(yīng)嚴(yán)重的電池片發(fā)黑。


除了上述監(jiān)測外，對(duì)組件的外觀檢查也非常重要。如組件背板劃痕、變黃、鼓泡，連接器脫落等。


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