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PVEL組件測試擬增加背板耐久性和熱輔助光致衰減敏感性內(nèi)容
日期:2019-08-30   [復(fù)制鏈接]
責(zé)任編輯:chengling 打印收藏評論(0)[訂閱到郵箱]
編者按:PV Evolution Labs(PVEL)近期正在增加新的測試方案,方案中增加背板耐久性和熱輔助光致衰減敏感性內(nèi)容可以解決日益增長的、與熱輔助光致衰減敏感性相關(guān)的問題 ,更好的響應(yīng)下游市場需求。

PV Evolution Labs(PVEL)在光伏組件產(chǎn)品鑒定計劃(PQP)中包括了許多重要的組件可靠性測試,這令鑒定計劃可以更好的響應(yīng)下游市場需求。

PVEL正在增加新的測試方案,用于解決日益增長的、與熱輔助光致衰減敏感性相關(guān)的問題。 PVEL還會解決長期存在的、與光伏組件背板耐久性以及太陽能電池微裂紋敏感度相關(guān)的問題。

PV Tech最近表示,杜邦公司光伏與先進(jìn)材料最新發(fā)布的“全球光伏可靠性研究”顯示,與2018年報告相比,缺陷率大幅增長了47%。該研究報告的重心是650萬塊組件背板材料的現(xiàn)場檢查和分析。

PVEL指出,它至少更新了一個區(qū)域PQP中的所有序列內(nèi)容。

PVEL還減少了所需的光伏組件樣本總量,同時將熱循環(huán)等測試的測試時間縮短了25%,在保持?jǐn)?shù)據(jù)質(zhì)量和完整性的同時提供了更快速的報告。公司表示,這部分內(nèi)容是通過更好的輸入信息和界定流程實現(xiàn)的。

PV Tech與DNV GL合作對PVEL的第5版光伏組件可靠性記分卡進(jìn)行了詳細(xì)分析。分析使用了更嚴(yán)格的測試機制,用于解決對標(biāo)準(zhǔn)測試中出現(xiàn)的失效現(xiàn)象了解有限的問題。

原標(biāo)題:PVEL組件測試擬增加背板耐久性和熱輔助光致衰減敏感性內(nèi)容
 
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來源:PV-Tech新聞
 
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