NREL團(tuán)隊(duì)在實(shí)驗(yàn)室的超級(jí)計(jì)算機(jī)上進(jìn)行了很多模擬實(shí)驗(yàn),在硅晶片相鄰的氧化層添加雜質(zhì)。具體來講,他們?cè)诒〉乃淼蓝趸鑼右腚s質(zhì);還在硅晶片相鄰的氧化鋁表面鈍化層添加雜質(zhì)。
這兩種情況下添加雜質(zhì),被認(rèn)為是有益的,通過提升電池多數(shù)載流子的傳輸速度,排斥少數(shù)載流子,能提高整體效率。
NREL模擬實(shí)驗(yàn)從硅晶片相鄰的氧化層除去某些原子,用一個(gè)不同元素的原子來替換,從而創(chuàng)造出虛擬的"缺陷。例如,當(dāng)氧原子被氟原子替換,這樣就會(huì)產(chǎn)生一個(gè)缺陷,進(jìn)而可以促進(jìn)電子收集。
示意圖:缺陷點(diǎn)(紅十字部分),有助于從光吸收體收集電子,堵住漏洞,進(jìn)而抑制載流子復(fù)合。
NREL研究表示,確定出正確的“缺陷”才是過程的關(guān)鍵,通過進(jìn)一步研究將會(huì)確定哪一處缺陷將會(huì)產(chǎn)生最好的結(jié)果。