國(guó)立臺(tái)灣大學(xué)Yulia Galagan等人開發(fā)了一種簡(jiǎn)單的JV參數(shù)光強(qiáng)度分析方法,可以了解太陽(yáng)能電池中出現(xiàn)的機(jī)制和限制設(shè)備性能的原因。所開發(fā)的方法得到漂移擴(kuò)散模型的支持,旨在幫助解釋鈣鈦礦太陽(yáng)能電池中界面或體復(fù)合、串聯(lián)或分流電阻的寄生損失。
這種方法不僅可以幫助指出器件中批量或界面重組的主導(dǎo)地位,還可以確定哪個(gè)界面更有缺陷。為此類JV參數(shù)的光強(qiáng)度分析提供了詳細(xì)和逐步的指導(dǎo)。所提出的方法和本研究的結(jié)論得到了一系列案例研究的支持,顯示了所提出的方法在實(shí)際例子中的有效性。
原標(biāo)題:AM: 鈣鈦礦太陽(yáng)能電池光伏參數(shù)光強(qiáng)分析